формой. Как и для других пород, для льда эта характеристика имеет генетическое значение. Площадь $ контакта границ кристаллов в единице объема по- роды приблизительно может быть определена по формуле 5 = [3/2, Величина $ поверхности кристаллов в единице объема породы вдвое болыше: $ = 213/2, Эта величина необходима для расчета толщины жидкой плен- ки между кристаллами льда при известных солености и темпера- туре. Ориентировка оптических осей кристаллов. Результаты измерений ориентировки оптических осей изображают графически в виде диаграммы плотностей расположения выходов оптических осей на поверхности сферы по методу В. Шмидта ($сейина+, 1925, стр. 399). Точка пересечения оптической оси каж- дого кристалла с поверхностью сферы наносится на сетку Шмидта, которая представляет собою изображение внутрен- ней поверхности полусферы в равноплощадной проекции. Стан- дартная сетка имеет диаметр 20 см и состоит из системы меридиа- нов и параллелей, проведенных через каждые 2° (фиг. 28). Рав- ноплощадная проекция выбрана потому, что она дает возмож- ность вести статистический подсчет количества точек на единице плоской поверхности без искажения результата по сравнению с поверхностью сферической. Для нанесения точки кальку, наложенную на сетку Шмидта, вращают до совмещения начальной нулевой отметки с соответ- ствующим отсчету по оси No делению на периферии сетки. Отсчеты по оси / универсального столика соответствуют на сетке широте, а отсчеты по оси Н — долготе, причем если определение произ-. ведено путем установки в полярное положение, то отсчет на сетке ведут от центра, а если в экваториальное, — то от перид ферии сетки. Все операции принято делать с таким расчетом ‚чтобы наносить точку пересечения оптической оси с поверхностью ниж- ней_полусферы. После нанесения всех осей составляют диаграмму плотностей путем подсчета количества точек поочередно на каждом участке поверхности размером 1% всей поверхности полусферы *. Пунк ТЫУРВЕНОЙ плотности соединяют ИЗОЛИНИяЯМИ. Изолиния, отве- чающая 1%, является границей областей с повышенной и пони- женной плотностями расположения осей. При отсутствии пре- * Описание практических приемов составления диаграммы плотно- стей см. в курсе Е. А. Кузнецова (прим. 2 на’стр. 127), а подробнее — З. С. Най (1938).: 136 обладающей кристаллографической ориентировки вся поверх- ность диаграммы представляет пространство с более или менее равномерной, близкой к 1%, плотностью расположения осей, ГО ЕНГа 7 Фиг, 98. Сетка Шмидта. Уменышена в 2 раза. тогда как в случае четко выраженной однообразной ориенти- ровки некоторый участок поверхности характеризуется очень вы- сокой плотностью, а остальная поверхность оказывается совсем лишенной выходов осей. Диаграммы плотностей могут быть общими, строящимися по всем кристаллам, или частичными, когда материалом для их составления служат только кристаллы, избранные по определен- ному признаку (например, отдельно по крупным и мелким крис- таллам, по кристаллам определенной формы и т. п.). Конечно, построение каждой диаграммы предполагает достаточно большое 137