характерных направлениях или серию равноотстоящих парал- лельных срезов. Наблюдать очертания кристаллов льда и даже наличие мо- заичной структуры внутри монокристаллов можно также и без. протаивания льда. Достаточно образец льда с полированной по- верхностью поместить в условия, при которых он будет подвер- гаться возгонке, или, наоборот, будет происходить сублимация водяных паров на его поверхности. ДЛЯ этого лед должен быть в первом случае нагрет выше температуры окружающего возду- ха, более или менее насыщенного водяными парами, а во втором случае его следует охладить ниже температуры воздуха. Как ттравление поверхности, так и ‹:ублимация на ней мелких ледя- ных кристаллов при расемотрении под определенным углом зре- ния в отраженном свете делают видимой малейшее различие в кри- сталлографической ориентировке соседних участков поверхности. МЕ’ГОД СубЛИМдЦИИ‚ аналогичный применяемому в кристаллогра- фии «методу росы», повидимому, впервые был применен Д. Моу- соном (Моуузоп, 1916) в антарктической экспедиции Э. Шеклтона 1907 — 1909 гг. Тем же методом, дополненным гониометрическим измере- нием углов между гранями сублимированных субиндивидов на соседних кристаллах, пользовался П. С. Вадило (1939, 1951). Измерение углов поворота поверхности до положеиий, при ко- торых наиболее интенсивно. отражение света от нее в данном направлении, дает возможность определить КРНСТЁ]ЛЛОГРЗФ"ЧЁ- ские символы ГРЗПВЙ кристаллов льда. В. Шефер ($сВае!ег, 1942а, б, и др.), наоборот, использо- вал травленую поверхность льда для получения отпечатков ее микрорельефа на пленку. Метод отпечатков с 1906 г. применялся в металлографии, а затем в минераграфии, где он первоначально был основан на химическом действии изучаемых металлов или ми- нералов полированного шлифа. В отличие от этого В. Шефер при- менил ХОЛОДПЫЙ раствор смолы, на котором получил механиче- ские отпечатки («реплики»), передающие малейшие детали релье- фа поверхности. Таким образом фиксировалась форма снежинок вертикального разреза снежного покрова, металлов и ледникового льда в полированных ШЛИФЗХ. Д‚ПЯ снежинок применялся 1 — 2%-ный раствор поливинилового спирта в двухлористом этилене, для ледникового льда — 3%-ный раствор, а для снеж- ного покрова 3—5%-ный раствор. Снежинки помещают на капле раствора или же кусок холод- ного стекла, покрытый тонкой пленкой раствора, подставляют под снегопад. ПРИ изучении разреза снежного покрова оконное стек- ло с нанесенной пленкой раствора на некоторое время прижи- мают к вертикальной стенке снега. Затем растворитель и при- липшие снежные частицы испаряются, и отпечаток готов 120 Техника получения отпечатков травленой поверхности льда аналогична — практикуемой в металлографии. Лед покрывают слоем раствора и через некоторое время после испарения рас- творителя пленку снимают пинцетом и расправляют на стекле отпечатком кверху. Наложение на стекло удобнее производить, помещая пленку на поверхность воды с небольшим количеством растворенного желатина и поднимая стекло до соприкосновения с плавающей пленкой; желатин препятствует отставанию пленки от стекла после высыхания. Полученные таким образом отпечат- ки рельефа травленой поверхности можно изучать под обыкно- венным световым и электронным микроскопами. Для изучения льда со световым микроскопом В. Шефер особенно рекомендует отпечатки на пленке, содержащей краску. Изучение структуры льда кристаллооптическими методами Кристаллооптическое исследование льда проводится в тон- ких срезах — шлифах — с помощью поляроидов или поляриза- ционного микроскопа?, Поляроиды представляют собою две прозрачные пла- стинки с тонкой желатиновой пленкой, содержащей массу оди- наково ориентированных — субмикроскопических кристалликов соединений иода с сернокислым хинином. Одну из них, служа- щую поляризатором, помещают между источником света и пре- паратом, а другую — анализатор — между препаратом и гла- зом, с плоскостью поляризации перпендикулярно к первой. По- ляроиды очень удобны для Простейшего кристаллооптического исследования в поле и имеют то преимущество перед микроско- пом, что позволяют иметь большое поле зрения, так как практи- чески могут быть изготовлены любого размера. Это делает необ- ходимым применение поляроидов и в лаборатории наряду с по- ляризационным микроскопом для изучения и фотографирования структуры пород с кристаллами средних и крупных раз- меров. Заменой поляроидов может служить простейший полярископ, изготовленный, например, из фотографических негативов (Вадило, 1951). При изучении пористых ледяных пород в применении поляроидов нет необходимости. Шлифы льда для исследования с помощью полярой- дов можно изготовлять при положительной температуре путем 1 Предполагается, что читатель знаком с основами кристаллоопти= ки. Из руководств по кристаллооптике можно указать следующие: Д. С. Белянкин. Кристаллооптика. М., 1949. В. Н. Лодочников:- Основы кристаллооптики.' М.—Л., 1947. В. И. Лучицкий. Петрогра- фия, т. 1. М.—Л., 1949. В. Б. Татарский. Кристаллооптика и иммер- сионный метод опредедения вещества. Л., 1949. 121